AI活用と共に進める製造データ分析
~ 今あるデータから始める最適条件探索・品質予測・異常兆候の可視化 ~
講演内容
フィジカルAIへの期待が高まる一方、その実現にはデータ基盤や学習環境の構築、十分な学習データの準備など、一定の時間と専門性が必要です。
そこで重要になるのが、AI活用の準備と並行して、すでに蓄積されている実験・製造データへの理解を深めておくことです。
本セッションでは、Microsoft Fabric/OneLakeに蓄積された実データを活用し、良品につながる最適条件の探索、条件変更による品質・性能の予測、さらに異常兆候の可視化・監視まで、今あるデータから始められる分析アプローチをご紹介します。
AIによる学習・推論と、現場が根拠を理解・納得しながら進める統計分析。それぞれの特長を活かしながら、AI活用につながる製造データ分析の進め方を、BIGDAT@Analysisを用いた具体例とともに解説します。
登壇者
サイバネットシステム株式会社
技術本部 IoT/XRサービス部 XRソリューション課 シニアエキスパート
阿部 国寛 氏